一种提高TFT显示面板信赖性的方法与流程

本发明涉及tft显示技术，尤其涉及一种提高tft显示面板信赖性的方法。

背景技术：

1、现有的tft显示面板随着使用时间的延长，显示效果逐渐降低，最后出现显示异常。发生该现象的主要原因是tft晶体管发生特性漂移，导致tft晶体管的开关比降低，从而导致显示像素不能随着信号电压的要求及时打开与关闭，进而引起显示异常。

2、tft晶体管的光稳定性差，在光线照射下容易发生老化，进而引起特性漂移，因此，检测判断光线中引起tft晶体管特性漂移的波段范围，并针对该波段范围对tft晶体管的工艺进行改善，以提高tft显示面板的信赖性具有重大意义。

技术实现思路

1、为了解决上述现有技术的不足，本发明提供一种方法，可提高tft显示面板的信赖性。

2、本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：

3、一种提高tft显示面板信赖性的方法，包括如下步骤：

4、步骤100：确定导致tft晶体管特性漂移的目标波段光线，以及能够改善所述tft晶体管特性漂移的目标工艺参数；

5、步骤200：在制备tft显示面板时，动态调节所述tft晶体管的目标工艺参数，以使所述tft晶体管在所述目标波段光线处的光学带隙在预设的目标带隙范围内。

6、本发明具有如下有益效果：本专利通过监测确定导致所述tft晶体管特性漂移的目标波段光线，以及能够改善所述tft晶体管特性漂移的目标工艺参数，然后在制备tft显示面板时，通过监测所述tft晶体管在所述目标波段光线处的光学带隙来动态调节所述tft晶体管的目标工艺参数，避免了所述tft显示面板受所述目标波段光线照射而发生显示异常，提高了所述tft显示面板的信赖性。

技术特征：

1.一种提高tft显示面板信赖性的方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤100中，确定导致tft晶体管特性漂移的目标波段光线的步骤如下：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤120中，对所述失效tft晶体管进行检测，以判断所述失效tft晶体管是否发生特性漂移的步骤如下：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在步骤121中，对所述失效tft晶体管的特性进行监测，以获取所述失效tft晶体管的第一特性曲线的步骤如下：

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤130中，对所述未失效tft晶体管进行检测，以确定引起所述失效tft晶体管发生特性漂移的目标波段光线的步骤如下：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在步骤131中，采用对照光源和测试光源分别对所述未失效tft晶体管进行照射，同时对所述未失效tft晶体管的特性进行监测，以获取所述未失效tft晶体管分别在所述对照光源和测试光源下的第二特性曲线和第三特性曲线的步骤如下：

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在步骤100中，确定能够改善所述tft晶体管特性漂移的目标工艺参数的步骤如下：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，在步骤160中，采用所述对照光源对新的tft晶体管进行照射，同时对新的tft晶体管的特性进行监测，以获取新的tft晶体管在所述对照光源下的第四特性曲线的步骤如下：

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤200中，在制备tft显示面板时，动态调节所述tft晶体管的目标工艺参数，以使所述tft晶体管在所述目标波段光线处的光学带隙在预设的目标带隙范围内的步骤如下：

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述tft晶体管包括栅绝缘层，所述目标工艺参数包括所述栅绝缘层在溅射成膜时的成膜气体中各气体混合比例。

技术总结
本发明公开了一种提高TFT显示面板信赖性的方法，包括步骤：对异常TFT显示面板中的失效TFT晶体管和未失效TFT晶体管进行定位；对所述失效TFT晶体管进行检测，以判断所述失效TFT晶体管是否发生特性漂移；若所述失效TFT晶体管发生特性漂移，则对所述未失效TFT晶体管进行检测，以确定引起所述失效TFT晶体管发生特性漂移的目标波段光线；在制备TFT显示面板时，动态调节TFT显示面板中的TFT晶体管的工艺参数，以使所述TFT晶体管在所述目标波段光线处的光学带隙在预设的目标带隙范围内。该方法可提高TFT显示面板的信赖性。

技术研发人员：王瑞生,刘福知,曹仁辉
受?；さ募际跏褂谜撸?/b>信利（仁寿）高端显示科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/24