1.一种触控检测方法，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述n个第一信号段中相邻的任意两个第一信号段在时间上连续。
3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述n个第一信号段中相邻的任意两个第一信号段之间存在第一时间间隔，所述第一时间间隔对应的相位差为2π的整数倍。
4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
7.一种触控检测方法，包括：
8.根据权利要求6所述的方法，其中，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
9.根据权利要求6所述的方法，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
10.根据权利要求6所述的方法，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
11.根据权利要求6所述的方法，其中，所述第二时间间隔为(n+1/2)*t，(n+1/4)*t或者(n+1/4)*t，其中，t为所述驱动信号的驱动周期。
12.一种触控检测方法，包括：
13.根据权利要求12所述的方法，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
14.根据权利要求1所述的方法，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
15.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
16.根据权利要求1-15中任一项所述的方法，其中，所述触控传感器为自电容式触控传感器，所述自电容式触控传感器包括相互独立的多个检测电极，每个检测电极与地之间形成触控自电容；
17.根据权利要求1-15中任一项所述的方法，其中，所述触控传感器为互电容式触控传感器，所述互电容式触控传感器包括交叉设置的多个驱动电极和多个感测电极，每个驱动电极与每个感测电极之间形成触控互电容；
18.根据权利要求1-15中任一项所述的方法，其中，所述触控传感器为互电容式触控传感器，所述互电容式触控传感器包括交叉设置的多个驱动电极和多个感测电极，每个驱动电极与每个感测电极之间形成触控互电容，
19.一种触控芯片，包括：
20.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述n个第一信号段中相邻的任意两个第一信号段在时间上连续。
21.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述n个第一信号段中相邻的任意两个第一信号段之间存在第一时间间隔，所述第一时间间隔对应的相位差为2π的整数倍。
22.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述n个第一信号段中相邻的任意两个第一信号段在时间上连续。
23.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
24.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
25.根据权利要求19所述的触控芯片，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
26.一种触控芯片，包括：
27.根据权利要求26所述的触控芯片，其中，，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
28.根据权利要求26所述的触控芯片，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
29.根据权利要求26所述的方法，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
30.根据权利要求26所述的方法，其中，所述第二时间间隔为(n+1/2)*t，(n+1/4)*t或者(n+1/4)*t，其中，t为所述驱动信号的驱动周期。
31.一种触控芯片，包括：
32.根据权利要求31所述的触控芯片，其中，所述n大于或等于2π与所述预设相位值的商。
33.根据权利要求31所述的触控芯片，其中，所述n为2π与所述预设相位值的商的整数倍。
34.根据权利要求32所述的触控芯片，其中，所述预设相位值为π，π/2或π/4中之一。
35.根据权利要求19-34中任一项所述的触控芯片，其中，
36.根据权利要求19-34中任一项所述的触控芯片，其中，
37.根据权利要求19-34中任一项所述的触控芯片，其中，
38.一种触控检测系统，包括触控传感器和如权利要求19-37中任一项所述的触控芯片。
39.一种电子设备，包括触控屏和如权利要求38所述的触控检测系统。