促进多个时分双工(tdd)数据包信号收发器的测试的方法
【专利说明】
【背景技术】
[0001]本发明涉及数据包信号收发器的测试，并且具体地讲，涉及用于多个此类装置的并行测试的系统和方法。
[0002]许多当前电子装置使用无线技术以用于连接和通信目的。因为无线装置发射和接收电磁能量，并且因为两个或更多个无线装置在因其信号频率和功率谱密度而具有干扰彼此操作的可能性，所以这些装置及其无线技术必须遵守各种无线技术标准规范。
[0003]当设计此类装置时，工程师需特别注意确保此类装置满足或超过其基于所包括的无线技术所规定标准的规范中的每一个。此外，当稍后大批量制造这些装置时，需要对这些装置进行测试，确保制造缺陷不会造成不当操作，其中包括测试装置是否遵守基于所包括的无线技术标准的规范。
[0004]对于在制造和组装之后测试这些装置的情形，当前无线装置测试系统采用子系统来分析从每个装置接收的信号。此类子系统通常至少包括用于分析由装置产生的信号的矢量信号分析器(VSA)和用于生成将由装置接收的信号的矢量信号生成器(VSG)。由VSA执行的分析和由VSG生成的信号通常为可编程的，以便使得每一者都可用于测试多种装置是否遵守具有不同频率范围、带宽和信号调制特性的多种无线技术标准。
[0005]在被测试的无线技术当中，存在装置的发射器和接收器以相同频率操作的无线技术。一个此类操作是时分双工(TDD)，其中一个已知的越来越常见的例子为蓝牙。当对采用TDD技术的两个或更多个此类装置执行同时测试时，在测试期间可能会由于装置的开始时间的变化而导致错误。例如，在一种情形中，一个或多个装置可与另一个待测装置(DUT)生成的响应数据包同步，而非对测试仪(例如，VSG)生成的预期测试数据包作出响应。因而，变得与错误信号同步的DUT将保持这样，并且因此产生错误或无效的测试结果。
[0006]因此，如果用于同步多个TDD DUT的方法可避免此类不当同步情形，则将有利地减少错误装置同步和测试时间，并且从而在每个装置的基础上减少总测试成本。
【发明内容】
[0007]根据受权利要求书?；さ谋痉⒚?，提供一种用于促进多个时分双工(TDD)数据包信号收发器的测试的方法和系统。由测试仪向多个TDD待测装置(DUT)发射复制的数据包信号，其中复制信号为空数据包信号或TDD数据包信号。在一个实施例中，以足以使DUT与测试仪同步的预定时间间隔发射复制空数据包信号。在另一个实施例中，在成功接收和未成功接收来自相应DUT的响应信号(其中响应信号指示相应复制TDD数据包信号的成功接收)并且因此与测试仪同步之后，提供对应复制TDD数据包信号，并且其数据包信号特性致使此类复制数据包信号分别未能符合或能够符合预定数据包信号标准。在同步之后，可在测试仪与DUT之间交换测试数据包信号和响应数据包信号。
[0008]根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯氖纠允凳├?，一种促进多个时分双工(TDD)数据包信号收发器的测试的方法包括:
[0009]为多个TDD数据包信号收发器提供多个传出数据包信号，其中所述多个传出数据包信号中的每一个对应于包括以下至少一个的共用数据包信号：
[0010] 空数据包信号，以及
[0011 ] 具有数据包信号特性的TDD数据包信号；
[0012]当所述共用数据包信号包括空数据包信号时，以预定时间间隔继续提供所述多个传出数据包信号；并且
[0013]当所述共用数据包信号包括TDD数据包信号时，通过提供所述多个传出数据包信号中的一个或多个，对来自所述多个TDD数据包信号收发器的多个响应信号中的相应一个的成功接收和不成功接收作出响应，其中
[0014]所述多个响应信号中的每一个都指示所述多个TDD数据包信号收发器中的对应一个对有效数据包的成功接收，并且
[0015]在成功接收来自所述多个TDD数据包信号收发器中的对应一个的所述多个响应信号之一之后，所述多个传出数据包信号中的对应一个提供有所述数据包信号特性，使得所述多个传出数据包信号中的所述对应一个未能符合预定数据包信号标准，并且
[0016]在未成功接收来自所述多个TDD数据包信号收发器中的对应一个的所述多个响应信号之一之后，所述多个传出数据包信号中的对应一个提供有所述数据包信号特性，使得所述多个发出数据包信号中的所述对应一个符合所述预定数据包信号标准。
【附图说明】
[0017]图I描绘了用于并行测试多个DUT的常规测试环境。
[0018]图2描绘了根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯囊桓鍪纠允凳├挠糜诓⑿胁馐远喔鯠UT的测试环境。
[0019]图3描绘了根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯牧硪桓鍪纠允凳├挠糜诓⑿胁馐远喔鯠UT的测试环境。
[0020]图4描绘了根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯牧硪桓鍪纠允凳├挠糜诓⑿胁馐远喔鯠UT的测试环境。
[0021]图5描绘了根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯牧硪桓鍪纠允凳├挠糜诓⑿胁馐远喔鯠UT的测试环境。
[0022]图6描绘了图4和图5的信号特性控制电路的一个示例性实施例。
[0023]图7描绘了图4和图5的信号特性控制电路的另一个示例性实施例。
[0024]图8描绘了图4和图5的信号特性控制电路的另一个示例性实施例。
[0025]图9描绘了根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯囊桓鍪纠允凳├挠糜谙駾UT传输测试信号以及从DUT传输确认信号的电路。
【具体实施方式】
[0026]以下【具体实施方式】是结合附图的受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯氖纠允凳├?。相对于本发明的范围，此类描述旨在进行示例而非加以限制。对此类实施例加以详尽的描述，使得本领域的普通技术人员可以实施该主题发明，并且应当理解，在不脱离本主题发明的精神或范围的前提下，可以实施具有一些变化的其他实施例。
[0027]在本发明全文中，在没有明确指示与上下文相反的情况下，应当理解，所述单独的电路元件可以是单数或复数。例如，术语“电路”可以包括单个部件或多个部件，所述部件为有源和/或无源，并且连接或换句话讲耦合到一起（如成为一个或多个集成电路芯片），以提供所述功能。另外，术语“信号”可指一个或多个电流、一个或多个电压、或数据信号。在图中，相似或相关的元件将具有相似或相关的字母、数字或数字字母混合的指示。此外，虽然在具体实施的上下文中已讨论了本发明使用分立的电子电路（优选地为一个或多个集成电路芯片形式），但作为另一种选择，根据待处理的信号频率或数据速率，此类电路的任何部分的功能可使用一个或多个适当编程的处理器进行具体实施。此外，就示出各种实施例的功能区块的示意图的图示来说，所述功能区块未必表示硬件电路之间的分区。
[0028]根据受权利要求书?；さ谋痉⒚鞯氖纠允凳├?，提供一种用于在避免不当测试仪与DUT同步的同时测试多个TDD装置的方法。在一个示例性实施例中，使用能够同时复制VSG信号以发送到多个TDD装置的测试系统或测试仪，以及用于使用单个VSA从多个TDD装置接收响应信号的解复用子系统，VSG向多个TDD装置发送多组空数据包，直到预定同步时间间隔已经过去为止。这个同步时间间隔被选择来允许正确操作TDD装置，使其准备好测试。一旦这个同步时间间隔已经过去，测试仪就可开始向装置发送多组预定义测试数据包并且开始从装置接收响应数据包，或另选地，TDD装置可开始向测试仪发送多组预定义测试数据包并且从测试仪接收响应数据包。
[0029]在另一个示例性实施例中，测试仪复制VSG信号以供同时发射到多个TDD装置，并且赋予信号特性控制，使得可损坏个别数据包信号以便使其不能够由其对应TDD装置接收，例如，通过将复制VSG信号的功率电平减小到低于阈值电平。此外，还包括复用子系统，其用于从多个TDD装置接收响应信号以供传输到测试仪的VSA，并且用于检测来自装置的空数据包的接收，并与信号特性控制子系统通信，以控制相应复制VSG信号的功率电平。
[0030]如下文较详细的论述，测试仪向多个TDD装置发送一组复制预定义同步数据包。准备好接收此类数据包的那些装置通过返回空数据包来作出响应。测试仪检测哪些装置已经返回此类空数据包，并且将返回和未返回的空数据包的状态传送到信号特性控制子系统。因此，像之前那样将后续的多组预定义同步数据包发送到TDD装置，但损坏被发送到已通过返回空数据包来确认其准备就绪进行测试的TDD装置的那些同步数据包（例如，通过在起始数据包发射之后并且在终止数据包发射之前显著减小信号功率）。同时，根据适用信号标准发射发送到尚未通过发